此标准规定了半导体集成电路驱动器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原理和测试程序。
此标准适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、 LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。其他类 别驱动器的测试参考使用。
GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法
起草单位：中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第二十四研究所、安徽大华半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、成都振芯科技股份有限公司。
起草人：刘芳 、周俊 、杨晓强 、纵雷 、刘凡 、霍玉柱 、林瑜攀 、陆坚 、梁希 、王会影 。