GB/T 42838─2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法

此标准规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。

此标准适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。

GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法

起草单位：中国电子技术标准化研究院、南京中旭电子科技有限公司、合肥美菱物联科技有限公司、北京微电子技术研究所、东莞市国梦电机有限公司。

起草人：尹航 、刘芳 、何万海 、唐食明 、张帆 、刘德广 。