GB/T 42848─2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法

此标准规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器（以下简称“器件”）电特性的通用测试方法。

此标准适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。

GB/T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法

起草单位：成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院。

起草人：何善亮 、蒲佳 、杨阳 、刘纪祖 、范超 、吴淼 、王可 、李锟 。