此标准描述了超导条带光子探测器（SSPD）的性能参数之一暗计数率（DCR或Rd）的测量，以及随偏置电流（Ib）和工作温度（T）变化关系的暗计数率的测试方法。界定了暗计数率相关的术语、定义、符号。
此标准适用于各种材料和结构的超导条带光子探测器的暗计数测量。
GB/T 42747-2023 超导条带光子探测器 暗计数率
起草单位：中国科学院上海微系统与信息技术研究所、赋同量子科技（浙江）有限公司、中国科学院物理研究所、南京大学、天津大学。
起草人：杨晓燕 、尤立星 、黄佳 、张成俊 、郑东宁 、张蜡宝 、胡小龙 。