此标准描述了采用辉光放电质谱法（GD-MS）测量锗酸铋（BGO）晶体中杂质元素的方法。
此标准适用于BGO晶体材料中除氢和惰性气体元素以外的其他杂质元素含量的测定，测定范围为 0.001μg/g ~ 1000μg/g（质量分数）。通过合适的标准样品校正，也适用于测量质量分数大于1000μg/g的杂质元素含量。
GB/T 42518-2023 锗酸铋（BGO）晶体 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所、宁波新材料测试评价中心有限公司。
起草人：卓尚军 、钱荣 、朱月琴 、盛成 、杨秋 、时晓露 、沈世音 。