此标准描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。
此标准适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。
GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
起草单位：北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院。
起草人：柳得橹 、娄艳芝 。
GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
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GB/T 20724-2021标准状态
- 发布于：2021-12-31
- 实施于：2022-07-01
- *非实时更新以实际为准