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SJ/T 11820-2022 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法

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SJ/T 11820-2022标准状态

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半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法简介

适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过 0.01 V~5 000 V,直流电流输出和直流电流测量范围不超过 1 nA~10 A,脉冲电流输出和脉冲电流测量范围不超过 10 A~1 200 A 的分立器件测试设备

SJ/T 11820-2022 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法

起草单位:中国电子技术标准化研究院、深圳市施罗德工业集团有限公司

起草人:刘冲、李洁、张珊 等

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