SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
起草单位：中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等
起草人：刘芳、尹航、胡海涛 等
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SJ/T 11706-2018标准状态
- 发布于：2018-02-09
- 实施于：2018-04-01
- *非实时更新以实际为准
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起草单位：中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等
起草人：刘芳、尹航、胡海涛 等