HG/T 4951-2016 光学功能薄膜 对比度测量方法
起草单位：中国兵器工业集团第五三研究所、天诺光电材料股份有限公司、四川长虹电器股份有限公司等
起草人：张瑞蓉、邱桂花、李斌 等
HG/T 4951-2016 光学功能薄膜 对比度测量方法
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HG/T 4951-2016标准状态
- 发布于：2016-01-15
- 实施于：2016-07-01
- *非实时更新以实际为准
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起草单位：中国兵器工业集团第五三研究所、天诺光电材料股份有限公司、四川长虹电器股份有限公司等
起草人：张瑞蓉、邱桂花、李斌 等