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T/ICMTIA 5.3-2020 集成电路用ArF光刻胶光刻检测方法

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T/ICMTIA 5.3-2020标准状态

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集成电路用ArF光刻胶光刻检测方法简介

内容简要 本文件规定了ArF光刻胶的光刻检测要求及方法、检测标准及包装、运输、存储及环保要求。…

T/ICMTIA 5.3-2020 集成电路用ArF光刻胶光刻检测方法

主要起草人:许从应、毛智彪、马潇、顾大公、李珊珊

起草单位:宁波南大光电材料有限公司

范围:本文件适用于集成电路用ArF光刻胶。

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