GB/T 36477─2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

国家标准 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

起草单位：中国电子技术标准化研究院、中芯国际集成电路制造（上海）有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、复旦大学、中兴通讯股份有限公司。

起草人：菅端端 、陈大为 、钟明琛 、罗晓羽 、冯光涛 、倪昊 、赵子鉴 、董艺 、田万廷 、高硕 、闵昊 、刘刚 。