i标准网
网站首页
国家标准
行业标准
地方标准
团体标准
搜索
当前位置:
首页
行业标准
SJ/T 10481-1994 硅外延层电阻率的面接触三探针方法
SJ/T 10481-1994 硅外延层电阻率的面接触三探针方法
下载
SJ/T 10481-1994 下载需要10金币,升级会员免费下载。
SJ/T 10481-1994标准状态
发布于:
1994-04-11
实施于:
1994-10-01
*非实时更新以实际为准
硅外延层电阻率的面接触三探针方法简介
SJ/T 10481-1994 硅外延层电阻率的面接触三探针方法
收藏
下载
上一篇:
JB/T 8138.3-1995 电缆附件试验方法 第 3 部分: 局部放电测量
不能下载?报告错误
相关推荐
YS/T 15-2015 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
T/IAWBS 003-2017 碳化硅外延层载流子浓度测定_汞探针电容-电压法