国家标准 碳化硅单晶片直径测试方法
GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法
起草单位：中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国电子技术标准化研究院。
起草人：丁丽 、周智慧 、蔺娴 、郝建民等 。
GB/T 30866─2014 碳化硅单晶片直径测试方法
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GB/T 30866-2014标准状态
- 发布于：2014-07-24
- 实施于：2015-02-01
- *非实时更新以实际为准
国家标准 碳化硅单晶片直径测试方法
GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法
起草单位：中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国电子技术标准化研究院。
起草人：丁丽 、周智慧 、蔺娴 、郝建民等 。