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GB/T 32278─2015 碳化硅单晶片平整度测试方法

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GB/T 32278-2015标准状态

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碳化硅单晶片平整度测试方法简介

国家标准 碳化硅单晶片平整度测试方法

GB/T 32278-2015 碳化硅单晶片平整度测试方法

起草单位:北京天科合达蓝光半导体有限公司、中国科学院物理研究所。

起草人:陈小龙 、郑红军 、张玮 、郭钰 。

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