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GB/T 4937.22─2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分:键合强度

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GB/T 4937.22-2018标准状态

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半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分:键合强度简介

国家标准 半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分:键合强度

GB/T 4937.22-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分:键合强度

起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所、深圳市标准技术研究院。

起草人:裴选 、彭浩 、高瑞鑫 、刘玮 、高金环 、马坤 。

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